标题:V形棱镜法测量晶体折射率
作者:尹鑫;邵宗书;吕孟凯;
作者机构:[尹鑫;邵宗书;吕孟凯] 山东大学晶体材料研究所,山东大学晶体材料研究所,山东大学晶体材料研究所,
来源:红外与激光技术
出版年:1987
期:04
页码:53-55+19
关键词:V形棱镜;晶体结构;折射率;测量方法
摘要:本文扼要叙述了V形棱镜法测量介质折射率的基本原理,根据晶体光学原理,分别介绍了用V形棱镜仪测量单轴晶和双轴晶折射率的样品加工取向。用V形棱镜法,首次在可见光波长范围内测量了γ-glycine、GO(NH_4 CH_2 COOHH_2C_2O_4)和DGO(2NH_4 CH_2COOH·H_2C_2O_4)等晶体的折射率。V形棱镜法测量晶体的折射率精度高、所需的样品小,而且对样品通光面的平行度、光洁度的加工要求比较低。特别是,在测量时可以检验光率体主轴方位确定地是否准确,这对于低对称性晶体折射率的测量是十分有益的,也是其它测量方法不可比拟的。
资源类型:期刊论文
原文链接:http://kns.cnki.net/kns/detail/detail.aspx?FileName=HWYJ198704009&DbName=CJFQ1987
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