标题:AgOx薄膜的形貌、光谱以及激光烧蚀研究
作者:QIN,Lianjie;Wang,Zhuo;Jia,Yuguang;Xu,Huizhong;Wang,Guangdong
作者机构:[秦连杰] 烟台大学环境与材料工程学院, 烟台, 山东 264005, 中国.;[贾玉光] 烟台大学环境与材料工程学院, 烟台, 山东 264005, 中国.;[徐惠忠] 烟台大学环境与材料 更多
通讯作者:Qin, L.-J.
通讯作者地址:[Qin, L.-J] Environmental and Material Engineering Institute, Yantai University, Yantai 264005, China
来源:功能材料
出版年:2006
卷:37
期:1
页码:139-142
关键词:氧化银薄膜; 激光烧蚀; 半导体; 金属纳米粒子
摘要:制备了不同氧分压比的AgOx薄膜,对其进行了原子力(AFM)形貌观察,发现分压比0.4时,薄膜的粗糙度最小,均匀性也最好。光谱性质表明:随着分压 比的增加,存在着金属向半导体的转变;经过熟处理后的共振吸收峰和扫描电(SEM)表明了金属银粒子的析出。不同激光功率下的烧蚀实验表明;在激光照射下 存在着两记录(烧蚀)形态,一种是银粒子散布在其间的气泡型;另一种是形成中间烧蚀孔,银粒子在孔附近密集的破裂气泡
收录类别:EI;CSCD;SCOPUS
Scopus被引频次:1
资源类型:期刊论文
原文链接:https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-33645646910&partnerID=40&md5=dbb07cbb2709fc042771b3d9daccece9
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