标题:τ衰变中米歇尔(Michel)参数的测量
作者:白景芝[1];卞建国[2]
作者机构:[白景芝]中国科学技术大学近代物理系,中国.;[卞建国]山东大学物理系,中国
来源:高能物理与核物理
出版年:1998
期:11
关键词:北京谱仪;τ衰变;电子能谱;米歇尔参数;
摘要:分析北京谱仪(BES)收集的4.03GeV质心系能量下e^+,e^-对撞数据,选出e^+e^-→τ^±τ^±X^±v′s事例,X^±可以为μ^±,π^±,ρ^±,拟合τ→ev′s中电子的能谱,得到τ→ev′s中Michel参数为ρτ→e=0.705^+0.055+0.027-0.054-0.026此结果与标准模型的预言相符合。
资源类型:期刊论文
原文链接:http://lib.cqvip.com/qk/92043X/199811/3322582.html
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