标题:一种精确测量波导参数的方法──M线光谱法
作者:卓壮,何明,陈军,牟晓东,邵宗书, 陈晓军
作者机构:[卓壮,何明,陈军,牟晓东,邵宗书, 陈晓军]山东大学晶体材料研究所, 南开大学物理系
来源:人工晶体学报
出版年:1994
期:01
页码:87-91
关键词:棱镜耦合器;全反射;LT波导;折射率
摘要:本文根据棱镜耦合器内的全反射原理,利用M线光谱法精确地测量了质子交换LT波导的衬底和波导模式的有效折射率,借助于IWKB法计算出了波导的折射率的分布,并采用Fermi公式拟合得到波导的表面折射率,其测量精度可达10 ̄(-4)量级。
资源类型:期刊论文
原文链接:http://kns.cnki.net/kns/detail/detail.aspx?FileName=RGJT401.016&DbName=CJFQ1994
TOP