标题:纳米Zn1-xFexSe薄膜的制备和结构研究
作者:张林;张连生
作者机构:[张林] 山东大学,物理与微电子学院, 济南, 山东 250100, 中国.;[张连生] 山东大学,物理与微电子学院, 济南, 山东 250100, 中国 更多
通讯作者地址:[Zhang, L] Inst. of Phys. and Microelectronics, Shandong Univ., Ji'nan 250100, China
来源:功能材料
出版年:2005
卷:36
期:3
页码:357-358+361
关键词:纳米晶薄膜; 稀释磁性半导体; 晶体结构
摘要:采用双源热蒸发方法制备了纳米Zn1-xFexSe稀释磁性半导体薄膜,根据X射线衍射谱和Raman散射谱研究了薄膜的晶体结构和声子谱特征.结果表明 :Zn1-xFexSe薄膜中纳米晶粒的晶格常数随Fe含量增加而增大;通过Raman散射光谱观察到明显的声子限域效应,与ZnSe体材料相比,Zn1 -xFexSe薄膜同光学声子模对应的Raman散射峰表现出宽化和红移;纳米晶粒的晶格膨胀导致Raman散射峰红移随Fe含量增多而相应加大.
收录类别:CSCD;SCOPUS
资源类型:期刊论文
原文链接:https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-18744368175&partnerID=40&md5=4f5043f2fedbc00ac54beb4d84bee44e
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