标题:遍举衰变过程D0K0spi+pi-和D0K0sK+K-及其共振态结构的实验研究
作者:Bai,Jingzhi;Ban,Yong;Bian,Jianguo;Cai,Xiao;Chang,Jinfan;Chen,Hesheng;Chen,Hongfang;Chen,Jiangchuan;Chen,Jie;Chen,Yuanbo;Chi,Shaopeng;Chu,Yuanping;Cui, 更多
作者机构:[白景芝] 中国科学院高能物理研究所, 北京 中国,中国.;[魏诚林] 中国科学院高能物理研究所, 北京 中国,中国.;[班勇] 北京大学技术物理系, 北京 100080, 中国.;[卞 更多
通讯作者地址:[Bai, JZ]CAS, Inst High Energy Phys, Beijing 100039, Peoples R China.
来源:高能物理与核物理
出版年:2004
卷:28
期:1
页码:1-10
关键词:北京谱仪; 北京正负电子对撞机; D介子; 分支比
摘要:利用北京谱仪(BES-Ⅰ)在北京正负电子对撞机(BEPC)e+e-质心系能量为4.03GeV处采集的积分亮度为22.3pb-1的数据,研究了D0 K0spi+pi-,D0K0sK+K-的衰变及其末态的共振结构. 实验测得D0K0spi+pi-过程的分支比为(5.320.530.40)%;D0K·-pi+,D0(K-)0rho0和D0(K-)0s(pi+p i-)non-resonance过程的分支比分别为(6.050.320.49)%, (1.170.170.13)%和(1.350.220.17)%;测得D0K0sK+K-,D0(K-)0phi和D0(K-)0(K+K-)non- phi的分支比分别为(1.040.240.16)%, (1.120.340.15)%和(0.270.130.03)%.
收录类别:CSCD;SCIE
资源类型:期刊论文
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