标题:中颅窝盖板低位的高分辨率CT“分度标准”构想
作者:孙晓卫[1];李东梅[1];窦芬芬[1];张子和[1];张建基[1];丁元萍[2];史丽[2]
作者机构:[孙晓卫;李东梅;窦芬芬;张子和;张建基]济南市儿童医院耳鼻喉科,山东济南250022,中国.;[丁元萍;史丽]山东大学齐鲁医院耳鼻咽喉头颈外科,山东济南250012,中国 更多
来源:山东大学耳鼻喉眼学报
出版年:2015
期:06
页码:22-25
DOI:10.6040/j.issn.1673-3770.0.2015.209
关键词:中颅窝;鼓室病变;颅底;颞骨;体层摄影术,X线计算机;
摘要:目的观察中颅窝盖板低位对耳后进路清除上鼓室病变的影响,探讨中颅窝盖板低位的分度标准。方法对87例影像科报告中颅窝盖板低位的慢性化脓性中耳炎患者的CT图像进行冠状位重建,沿外耳道上壁最高点作水平切线L1,自该层面出现上半规管结构的最高点作水平切线L2,沿该层面的中颅窝盖板最低点作水平切线L3,测量L1~L2距离a和L1~L3距离b,计算b/a值r,依据r值将中颅窝盖板低位分为正常、轻、中、重及绝对低位,与3位手术医生术前评估及手术记录结果进行比较。结果手术医生根据不同的r值,不同观点如下:1当r〈1/4时,不认同影像科提示的中颅窝盖板低位;2当1/4≤r〈1/3时,认同中颅窝盖板低位,但手术记录中未提及;3当1/33/4时,清除上鼓室病变时非常困难,中颅窝盖板低位导致的耳后进路已不可避免的要磨除外耳道后壁。结论可依据r值可将中颅窝盖板低位分无、轻、中、重及绝对低位"5度",轻度对耳后进路清除上鼓室病变无影响,中度耳后进路清除上鼓室病变存在困难,重度经耳后进路清除上鼓室病变部分需要磨除外耳道后壁,绝对低位时磨除外耳道后壁已不可避免。
资源类型:期刊论文
原文链接:http://lib.cqvip.com/qk/98366C/201506/667187413.html
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