标题:比较法测量晶体的电光系数
作者:尹鑫;邵宗书
作者机构:[尹鑫]山东大学晶体材料研究所;[邵宗书]山东大学晶体材料研究所
来源:压电与声光
出版年:1987
期:06
页码:39-42+55
关键词:电光晶体;ADP;电光效应;光学效应;电光系数;半波电压;KDP;法的理论;比较法;
摘要:我们用一台旋光仪,以DKDP晶体纵向电光效应所引起的光程变化补偿其它晶体的电光效应所引起的光程变化,提供了一种简单、迅速和高灵敏度地测量晶体半波电压和电光系数的方法.采用此方法测量了典型的电光晶体ADP和KDP的横向与纵向半波电压和相应的电光系数γ_(63),以及LiNbO_3;晶体的横向半波电压与相应的电光系数γ_(22).实验结果与其他方法的测量值及文献报道的值基本一致.
资源类型:期刊论文
原文链接:http://kns.cnki.net/kns/detail/detail.aspx?FileName=YDSG198706006&DbName=CJFQ1987
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